Thử nghiệm Kính phủ bức xạ thấp (Low E) theo QCVN 16:2023/BXD

Thử nghiệm kính phủ bức xạ thấp (Low E) theo QCVN 16:2023/BXD là bước quan trọng nhằm đánh giá chất lượng và khả năng đáp ứng tiêu chuẩn kỹ thuật của loại kính tiên tiến này. Nhờ lớp phủ oxit kim loại mỏng có khả năng phản xạ tia hồng ngoại, kính Low E giúp giảm truyền nhiệt, giữ ánh sáng tự nhiên và tiết kiệm năng lượng cho công trình. Nhằm đáp ứng các yêu cầu quản lý chất lượng hiện hành, OPACONTROL cung cấp dịch vụ thử nghiệm kính phủ bức xạ thấp (Low E) theo QCVN 16:2023/BXD với hệ thống phòng thí nghiệm hiện đại và đội ngũ chuyên gia giàu kinh nghiệm, giúp doanh nghiệp đảm bảo sản phẩm đạt chuẩn, sẵn sàng lưu thông trên thị trường. Cùng tìm hiểu chi tiết về dịch vụ trong bài viết sau.

1. Kính phủ bức xạ thấp (Low E) là loại kính gì?

Kính phủ bức xạ thấp (Low E) là loại kính được phủ một lớp hợp kim kim loại siêu mỏng lên bề mặt nhằm hạn chế sự truyền nhiệt mà vẫn đảm bảo khả năng truyền sáng tự nhiên. Lớp phủ này có tác dụng phản xạ tia hồng ngoại, giúp giữ nhiệt bên trong vào mùa đông và ngăn nhiệt bên ngoài vào mùa hè, từ đó tăng hiệu quả cách nhiệt, tiết kiệm năng lượng và mang lại không gian sống thoải mái, sáng thoáng.

Nguyên lý hoạt động của Kính phủ bức xạ thấp (Low E)
Nguyên lý hoạt động của Kính phủ bức xạ thấp (Low E)

2. Thử nghiệm kính phủ bức xạ thấp (Low E) là gì? 

Thử nghiệm kính phủ bức xạ thấp (Low E) là quá trình kiểm tra, đánh giá các đặc tính cơ lý và quang học của kính nhằm xác định khả năng cách nhiệt, truyền sáng và độ bền của sản phẩm. Thông qua các phép thử theo quy định trong QCVN 16:2023/BXD và các tiêu chuẩn kỹ thuật liên quan, việc thử nghiệm giúp đảm bảo kính Low E đáp ứng yêu cầu chất lượng, an toàn và đủ điều kiện lưu thông trên thị trường.

>> Thử nghiệm kính nổi xây dựng 

>> Thử nghiệm kính phẳng tôi nhiệt

>> Thử nghiệm kính màu hấp thụ nhiệt

3. Danh sách chỉ tiêu thử nghiệm kính phủ bức xạ thấp theo QCVN 16:2023/BXD

Tên sản phẩm Chỉ tiêu kỹ thuật Mức yêu cầu Phương pháp thử Quy cách lấy mẫu Mã HS
Kính Phủ bức xạ thấp (Low E) Khuyết tật ngoại quan Theo bảng 1 EN 1096-1:2012 Điều 8.2 EN 1096-1:2012 3 mẫu thử kích thước≥610x610mm

 

7005.21.90
Độ phát xạ EN 12898:2009 3 mẫu thử kích thước (50 x 50)mm
Lớp phủ cứng ≤ 0,25
Lớp phủ mềm ≤ 0,18

Chi tiết về các chỉ tiêu thử nghiệm kính phủ bức xạ thấp theo QCVN 16:2023/BXD tại OPACONTROL:

a. Độ phát xạ (EN 12898:2009)

  • Để xác định độ phát xạ của tấm kính, cần sử dụng máy quang phổ (5-50) µm, và 3 tấm kính 50 x 50mm.
  • Xác định hệ số phản xạ đều phổ của kính thành phần trong suốt không hồng ngoại ở tần suất gần bình thường Rn() phải được xác định bằng máy quang phổ hồng ngoại trong dải (5-50) µm.
  • Tổng phản xạ bình thường ở 283 K, Rn sẽ được tính toán bằng cách sử dụng quy trình tích hợp được chỉ định từ các giá trị phản xạ phổ tương ứng.
  • Độ phát xạ pháp tuyến tổng Ɛn, phải được tính từ hệ số phản xạ pháp tuyến tổng.
  • Độ phát xạ đã hiệu chỉnh tương ứng, phải được xác định bằng cách nhân độ phát xạ thông thường với tỷ lệ Ɛ/Ɛn.
Chỉ tiêu thử nghiệm kính phủ bức xạ thấp theo QCVN 16:2023/BXD
Chỉ tiêu thử nghiệm kính phủ bức xạ thấp theo QCVN 16:2023/BXD

b. Khuyết tật ngoại quan (EN 1096-1:2012)

  • Mẫu thử: 03 mẫu kích thước 610 x 610mm.
  • Các khuyết tật được phát hiện bằng mắt thường bằng cách quan sát kính trong quá trình truyền hoặc phản xạ. Ánh sáng nhân tạo hoặc ánh sáng ban ngày có thể được sử dụng làm nguồn chiếu sáng.
  • Ánh sáng nhân tạo: là một mặt phẳng phát ra ánh sáng khuếch tán với độ sáng đồng đều và chỉ số màu chung ra cao hơn 70. Nó thu được bằng cách sử dụng nguồn sáng có nhiệt độ màu tương quan nằm trong khoảng 4000 K đến 6000 K. Phía trước sự sắp xếp của các nguồn sáng là một bảng tán xạ ánh sáng, không có tính chọn lọc quang phổ. Độ rọi trên bề mặt kính phải nằm trong khoảng 400 lx đến 20000 lx.
  • Áng sáng ban ngày là ánh sáng đồng nhất, không có ánh sáng mặt trời chiếu trực tiếp.
  • Tấm kính được kiểm tra ở khoảng cách tối thiểu là 3m, trong quá trình kiểm tra, góc giữa pháp tuyến với bề mặt của tấm kính và chùm sáng tới mắt của người quan sát sau khi phản xạ hoặc truyền qua tấm kính không được vượt quá 30ᵒ.

>> Thử nghiệm kính xây dựng theo QCVN 16:2023/BXD 

>> Chứng nhận hợp quy Kính xây dựng theo QCVN 16:2023/BXD

4. Dịch vụ Thử nghiệm kính Low E tại OPACONTROL

OPACONTROL hỗ trợ doanh nghiệp thực hiện kiểm tra và thử nghiệm kính phủ bức xạ thấp (Low E) theo QCVN 16:2023/BXD một cách nhanh chóng và chính xác, giúp rút ngắn tối đa thời gian chờ đợi nhờ vào gần 10 năm kinh nghiệm trong lĩnh vực thử nghiệm vật liệu xây dựng.

Sau khi thực hiện, doanh nghiệp sẽ được cấp giấy kết quả thử nghiệm có độ chính xác và giá trị pháp lý cao, là cơ sở quan trọng để công bố hợp quy sản phẩm theo quy định của Bộ Xây dựng.

Khi QCVN 16:2023/BXD chính thức có hiệu lực từ đầu năm 2024, OPACONTROL đã triển khai đầy đủ năng lực thử nghiệm và chứng nhận đối với sản phẩm kính Low E, đồng thời áp dụng nhiều ưu đãi đặc biệt cho doanh nghiệp khi sử dụng dịch vụ.

Ưu điểm khi lựa chọn OPACONTROL:

  • Trang thiết bị thí nghiệm hiện đại, phòng thí nghiệm đạt chuẩn được công nhận.

  • Hồ sơ năng lực pháp lý đầy đủ, được cơ quan có thẩm quyền chỉ định.

  • Kết quả thử nghiệm nhanh chóng, chính xác, đúng tiến độ.

  • Chi phí cạnh tranh, minh bạch, không phát sinh thêm.

  • Dịch vụ trọn gói, tư vấn tận tâm, hỗ trợ doanh nghiệp từ A–Z.

Nếu Quý Doanh nghiệp có nhu cầu thử nghiệm hoặc chứng nhận hợp quy kính phủ bức xạ thấp (Low E) theo QCVN 16:2023/BXD, vui lòng liên hệ Hotline 1800.646438 để được tư vấn và báo giá chi tiết từ đội ngũ chuyên gia của OPACONTROL.

CÔNG TY TNHH CHỨNG NHẬN VÀ THỬ NGHIỆM OPACONTROL

Website: https://opacontrol.com.vn/

Email: opa@opacontrol.vn

Facebook: https://www.facebook.com/opacontrol

SĐT: 024.22061628 – 1800.646438

0/5 (0 Reviews)

Để lại một bình luận

Email của bạn sẽ không được hiển thị công khai. Các trường bắt buộc được đánh dấu *