- Trang chủ
- Thử nghiệm VLXD theo QCVN 16:2023/BXD
- Thử nghiệm Kính phủ bức xạ thấp (Low E) theo QCVN 16:2023/BXD
Thử nghiệm Kính phủ bức xạ thấp (Low E) theo QCVN 16:2023/BXD
✅ Thời gian nhanh chóng, như cam kết
✅ Công bằng, hiệu quả, trách nhiệm và minh bạch
✅ Chi phí hợp lý, báo giá chi tiết
✅ Thông tin khách hàng bảo mật tuyệt đối
✅ Dịch vụ uy tín trên toàn quốc
Opacontrol giới thiệu dịch vụ thử nghiệm kính phủ bức xạ thấp theo QCVN 16:2023/BXD chuyên nghiệp đến Quý Doanh nghiệp trên toàn quốc. Chúng tôi kiểm tra chất lượng kính phủ được sản xuất trong nước hoặc hàng xuất nhập khẩu qua các chỉ tiêu kỹ thuật mà Bộ Xây Dựng đề ra trong thông tư 04/2023/TT-BXD. Mời bạn tham khảo chi tiết dịch vụ!
1. Tổng quan về kính phủ bức xạ thấp (Low E)
- Kính phủ mềm: Sử dụng công nghệ điện giải trong chân không để phù hợp chất đặc biệt. Tùy yêu cầu mà có thể phủ thêm hai hay nhiều lớp khác.
- Phủ cứng: Công nghệ này kết hợp nhiệt luyện và phủ hóa lên bề mặt kính. Trong quá trình sản xuất sẽ phủ lên tấm kính một hợp chất có tác dụng kiểm soát nhiệt
2. Thử nghiệm kính phủ bức xạ thấp theo QCVN 16:2023/BXD
Tên sản phẩm | Chỉ tiêu kỹ thuật | Mức yêu cầu | Phương pháp thử | Quy cách lấy mẫu | Mã HS |
Kính Phủ bức xạ thấp (Low E) | Khuyết tật ngoại quan | Theo bảng 1 EN 1096-1:2012 | Điều 8.2 EN 1096-1:2012 | 3 mẫu thử kích thước≥610x610mm
| 7005.21.90 |
Độ phát xạ |
| EN 12898:2009 | 3 mẫu thử kích thước (50 x 50)mm | ||
Lớp phủ cứng | ≤ 0,25 | ||||
Lớp phủ mềm | ≤ 0,18 |
a. Độ phát xạ (EN 12898:2009)
- Để xác định độ phát xạ của tấm kính, cần sử dụng máy quang phổ (5-50) µm, và 3 tấm kính 50 x 50mm.
- Xác định hệ số phản xạ đều phổ của kính thành phần trong suốt không hồng ngoại ở tần suất gần bình thường Rn(𝞴) phải được xác định bằng máy quang phổ hồng ngoại trong dải (5-50) µm.
- Tổng phản xạ bình thường ở 283 K, Rn sẽ được tính toán bằng cách sử dụng quy trình tích hợp được chỉ định từ các giá trị phản xạ phổ tương ứng.
- Độ phát xạ pháp tuyến tổng Ɛn, phải được tính từ hệ số phản xạ pháp tuyến tổng.
- Độ phát xạ đã hiệu chỉnh tương ứng, phải được xác định bằng cách nhân độ phát xạ thông thường với tỷ lệ Ɛ/Ɛn.
b. Khuyết tật ngoại quan (EN 1096-1:2012)
- Mẫu thử: 03 mẫu kích thước 610 x 610mm.
- Các khuyết tật được phát hiện bằng mắt thường bằng cách quan sát kính trong quá trình truyền hoặc phản xạ. Ánh sáng nhân tạo hoặc ánh sáng ban ngày có thể được sử dụng làm nguồn chiếu sáng.
- Ánh sáng nhân tạo: là một mặt phẳng phát ra ánh sáng khuếch tán với độ sáng đồng đều và chỉ số màu chung ra cao hơn 70. Nó thu được bằng cách sử dụng nguồn sáng có nhiệt độ màu tương quan nằm trong khoảng 4000 K đến 6000 K. Phía trước sự sắp xếp của các nguồn sáng là một bảng tán xạ ánh sáng, không có tính chọn lọc quang phổ. Độ rọi trên bề mặt kính phải nằm trong khoảng 400 lx đến 20000 lx.
- Áng sáng ban ngày là ánh sáng đồng nhất, không có ánh sáng mặt trời chiếu trực tiếp.
- Tấm kính được kiểm tra ở khoảng cách tối thiểu là 3m, trong quá trình kiểm tra, góc giữa pháp tuyến với bề mặt của tấm kính và chùm sáng tới mắt của người quan sát sau khi phản xạ hoặc truyền qua tấm kính không được vượt quá 30ᵒ.
3. Dịch vụ Thử nghiệm kính Low E tại Opacontrol
- Trang thiết bị thí nghiệm hiện đại, phòng thí nghiệm đạt chuẩn
- Hồ sơ năng lực pháp lý đầy đủ, được công nhận
- Kết quả thử nghiệm chính xác, nhanh chóng
- Chi phí rẻ, không phát sinh
- Dịch vụ trọn gói, tận tâm
CÔNG TY TNHH CHỨNG NHẬN VÀ KIỂM ĐỊNH CHẤT LƯỢNG OPACONTROL
Website: https://opacontrol.com.vn/
Email: opa@opacontrol.vn
Facebook: https://www.facebook.com/opacontrol
SĐT: 024.22061628 - 1800.646480
![Thử nghiệm Kính phủ bức xạ thấp (Low E) theo QCVN 16:2023/BXD](http://product.hstatic.net/200000582805/product/thu-nghiem-kinh-low-e_76dd44866a374d4397daef902371de2c_master.png)